Il nuovo fotorelè TLP3475W di Toshiba riduce la perdita di inserzione e migliora la trasmissione del segnale ad alta frequenza.
Toshiba Electronics Europe ha lanciato un nuovo fotorelè specificamente progettato per ridurre la perdita di inserzione e sopprimere l’attenuazione di potenza dei segnali ad alta frequenza. Il nuovo dispositivo è destinato all’uso in applicazioni di test di semiconduttori, inclusi tester di memoria ad alta velocità, tester logici ad alta velocità o schede sonda.
Grazie al design ottimizzato del package, il nuovo TLP3475W ha ridotto la capacità parassita e l’induttanza, riducendo così la perdita di inserzione dei segnali nella gamma di frequenza di 20 GHz (tipico). Ciò rappresenta un miglioramento delle prestazioni di 1,5 volte rispetto al dispositivo TLP3475S esistente.
La corrente (IFT) richiesta per pilotare il LED è <3,0 mA e la resistenza di conduzione RDSON è tipicamente 1,1 Ω. La tensione di isolamento (BVs) supera i 300 Vrms e la capacità di uscita (COFF) è inferiore a 20 pF, contribuendo a tempi di commutazione dell’ordine di 2 ms. Il dispositivo offre una funzione normalmente aperta (NO)/1-Form-A.
Il nuovo TLP3475W è alloggiato in un contenitore WSON4 che misura solo 1,45 mm x 2,0 mm x 0,8 mm, rendendolo uno dei fotorelè più minuscoli attualmente disponibili, del 40% più piccolo rispetto al package ultracompatto S-VSON4T di Toshiba, caratteristica importante nei progetti multicanale in cui più dispositivi vengono utilizzati su un’unica scheda.
L’intervallo di temperatura operativa va da -40ºC a +110ºC, rendendolo adatto per applicazioni industriali, compresi i test sui semiconduttori ad alta velocità.
