Dimensioni ridotte e commutazione rapida offrono vantaggi significativi negli ATE di fascia alta
Toshiba Electronics Europe ha lanciato un nuovo fotorelè a bassa tensione e alta velocità. Particolarmente adatto per i sistemi di test dei semiconduttori, il TLP3450S rende i dispositivi di misurazione in prova (DUT) ad alta velocità più precisi. È adatto anche per l’uso in schede sonda, strumenti di misura e un’ampia gamma di apparecchiature industriali.
Il nuovo TLP3450S si basa su una configurazione interna migliorata con LED a infrarossi accoppiati a matrici di fotodiodi con un design ottimizzato. Di conseguenza, il tempo di commutazione di accensione (tON) del nuovo dispositivo è inferiore a 80 μs. Rispetto alla generazione precedente (TLP3450), ciò rappresenta un miglioramento del 40%, che andrà a beneficio significativo della produttività complessiva dei sistemi ATE.
Il TLP3450S ha una capacità di uscita (COFF) inferiore di soli 0,6 pF, che riduce la perdita di segnale ad alta frequenza quando l’uscita è disattivata, il che riduce il rumore e migliora la precisione delle strutture di multiplexing. Il dispositivo ha anche una resistenza di accensione (RON) inferiore, in genere 6,8 Ohm, che migliora l’attenuazione del segnale quando l’uscita è in stato ON. Il TLP3450S ha una classificazione di isolamento ingresso-uscita (BV) di 500 Vrms ed è in grado di funzionare a temperature ambiente comprese tra -40 °C e +110 °C. È configurato come un dispositivo di contatto di forma A ed è in grado di fornire 160 mA (ION) in modo continuo. La classificazione pulsata è 480 mA (IONP).
I sistemi ATE complessi richiedono piccoli componenti per migliorare la densità di montaggio. Per raggiungere questo obiettivo, il TLP3450S è alloggiato in un minuscolo package S-VSON4T che misura appena 1,45 mm × 2,0 mm × 1,3 mm, con una riduzione del 18% dell’ingombro rispetto ai prodotti convenzionali.
Ulteriori informazioni sul fotorelè TLP3450S sono disponibili al seguente link.
