Keysight Technologies ha annunciato il nuovo sistema di test parametrico parallelo Keysight P9002A, che fornisce test economici e ad alta produttività di wafer per accelerare il time-to-market nella ricerca e sviluppo e ridurre i costi di test in fase di produzione.
La carenza globale di semiconduttori ha creato una crescente domanda di semiconduttori per l’industria automobilistica, di dispositivi digitali e di elettrodomestici. L’innovazione tecnologica continua dei semiconduttori sta progredendo pur in presenza di sfide tecniche per adattare nuovi materiali, nonché processi di miniaturizzazione e confezionamento 3D. Inoltre, la complessa progettazione di dispositivi destinati ad applicazioni commerciali come 5G, data center, intelligenza artificiale (AI) e automotive sta aumentando i parametri di test.
Per affrontare questa sfida e consentire ai produttori di aumentare rapidamente la capacità, Keysight ha presentato il nuovo sistema di test parametrico parallelo P9002A, che offre test su wafer con un’elevata produttività, nonché una struttura di opzioni flessibile per risorse di test paralleli fino a 100 canali, comprese le capacità di test parametrici in ogni risorsa. La serie P9000 di Keysight fornisce compatibilità software con il software SPECS sui tester parametrici serie 4080, consente ai clienti di utilizzare i loro programmi e piani di test esistenti con l correlazioni di dati.
Il nuovo sistema di test parametrico parallelo P9002A di Keysight offre i seguenti vantaggi chiave per il cliente:
- Possibilità di aggiungere opzioni in base ai requisiti dei test, con struttura di licenza per un budget efficace.
- Le esclusive tecnologie di test parametrici e la rapida misurazione della capacità generano un rendimento migliore rispetto ai tester parametrici della serie 4080.
- La compatibilità del sistema e la correlazione dei dati con il tester parametrico Keysight serie 4080 consente ai clienti di utilizzare i propri programmi di tester, piani di test e schede sonda esistenti, con un adattatore per scheda sonda compatibile con 4080 per ridurre al minimo i costi di costruzione con un nuovo ambiente di test P9002A.
“Keysight è lieta di supportare lo sviluppo e la produzione di semiconduttori in continua evoluzione con soluzioni di misurazione avanzate, come il sistema di test P9002A“, ha affermato Shinji Terasawa, vicepresidente e direttore generale di Wafer Test Solutions di Keysight. “Questa nuova soluzione riflette l’impegno di Keysight nell’aiutare a risolvere le sfide aziendali dei nostri clienti con comprovata esperienza e competenza nei test parametrici“.
