Maggiore produttività ed efficienza con test parametrici fino a 3 kV one-pass abilitati da una matrice di commutazione ad alta tensione.
Keysight Technologies ha introdotto oggi il sistema di test per wafer ad alta tensione 4881HV, ampliando il suo portafoglio di apparecchiature per il test di semiconduttori. La soluzione migliora la produttività dei processi consentendo test parametrici fino a 3 kV che supportano alta e bassa tensione in test one-pass.
Tradizionalmente i produttori di semiconduttori utilizzano sistemi di test separati per alte e basse tensioni. Tuttavia, la domanda di semiconduttori di potenza sta crescendo rapidamente grazie alla loro multifunzionalità, alle prestazioni più elevate e ai dispositivi di nuova generazione come il carburo di silicio (SiC) e il nitruro di gallio (GaN). Di conseguenza, i clienti hanno bisogno di una soluzione per testare i loro dispositivi in modo più accurato ed efficiente e ridurre il time-to-market.
La soluzione di Keysight affronta queste sfide consentendo ai produttori di dispositivi di potenza di eseguire il monitoraggio del controllo di processo (PCM) e il test di accettazione dei wafer (WAT) nella produzione. Il nuovo sistema di test offre i seguenti vantaggi:
- Capacità ad alta tensione per soddisfare le esigenze future: la matrice di commutazione ad alta tensione (HV-SWM) supporta requisiti fino a 3 kV, è scalabile fino a 29 pin e si integra con unità di misura sorgente di precisione (SMU). Consente misurazioni altamente flessibili da bassa corrente fino a risoluzione sub-pA fino a 3 kV su qualsiasi pin. Inoltre, sono supportate la misurazione della capacità ad alta tensione e vari test parametrici.
- I test one-pass aumentano produttività ed efficienza: HV-SWM consente un singolo sistema di test anziché sistemi di test separati ad alta e bassa tensione. Utilizzare un sistema è più efficiente e riduce l’ingombro richiesto e il tempo di test. Il sistema si integra con gli ambienti di automazione di fabbrica utilizzando il software SPECS-FA di Keysight, che migliora l’efficienza dell’intero processo di produzione.
- Maggiore sicurezza e affidabilità: il sistema di test è dotato di circuiti di protezione e controllo macchina integrati, che garantiscono che gli operatori e le apparecchiature non siano influenzati da sovratensioni durante il test, ed è conforme alle normative di sicurezza, compresi gli standard SEMI S2.
Shinji Terasawa, Vice President e General Manager di Keysight’s Wafer Test Solutions, ha affermato: “Keysight è entusiasta di presentare il nostro nuovo sistema di test per semiconduttori di potenza che si basa sulla nostra lunga esperienza nel collaudo di semiconduttori avanzati. La nostra missione è quella di guidare il mercato fornendo soluzioni all’avanguardia che anticipano e soddisfano le esigenze in rapida evoluzione del settore dei semiconduttori. Questa ultima innovazione esemplifica il nostro forte impegno nei confronti del settore“.
Risorse
- Prodotto: Sistema di prova wafer ad alta tensione Keysight 4881HV
- Brochure: Sistema di prova wafer ad alta tensione Keysight 4881HV
