Il nuovo hub fornirà sistemi metrologici all’avanguardia per accelerare la ricerca sui semiconduttori e migliorare i progetti di sviluppo con produttori di chip e partner dell’ecosistema in tutta Europa, in particolare nei segmenti di mercato ICAPS (IoT, Communications, Automotive, Power&Sensors).
Applied Materials e il Fraunhofer Institute for Photonic Microsystems IPMS, il principale centro di ricerca tedesco sui semiconduttori da 300 mm, hanno annunciato oggi una collaborazione per creare il più grande hub tecnologico europeo per la metrologia e il processo di analisi dei semiconduttori.
L’hub tecnologico, che avrà sede presso il Center Nanoelectronic Technologies (CNT) del Fraunhofer IPMS a Dresda, è situato nel cuore della Silicon Saxony, il più grande cluster di semiconduttori d’Europa. L’hub sarà dotato delle apparecchiature metrologiche all’avanguardia eBeam di Applied Materials, compresi i sistemi VeritySEM CD-SEM (microscopio elettronico a scansione di dimensione critica), e sarà composto da ingegneri di Applied Materials ed esperti di ricerca e sviluppo.
I commenti
“Fraunhofer IPMS e i suoi partner trarranno vantaggio dall’accesso ai sistemi metrologici eBeam, leader del settore di Applied Materials“, ha affermato il Dott. Benjamin Uhlig-Lilienthal, responsabile della Business Unit Next Generation Computing presso Fraunhofer IPMS. “Il nuovo hub tecnologico offrirà metrologia avanzata a livello di wafer nel nostro ambiente CMOS industriale con la capacità unica di Fraunhofer IPMS di collegare i wafer direttamente con i produttori di semiconduttori”.
“Il nostro hub di metrologia collaborativa accelererà i cicli di apprendimento e lo sviluppo di nuove applicazioni per il Fraunhofer Institute e i nostri clienti e partner in Europa”, ha affermato James Robson, Corporate Vice President per Applied Materials Europe. “Questo polo tecnologico unico avrà la capacità di testare e qualificare i processi su una varietà di materiali di substrato e di spessori, fondamentali per le applicazioni nel variegato panorama europeo dei semiconduttori”.
La metrologia è fondamentale nella produzione di microchip poiché consente le misurazioni accurate necessarie per monitorare e controllare con precisione la qualità delle singole fasi e sequenze di produzione dei semiconduttori. I produttori di chip utilizzano apparecchiature metrologiche nei punti critici per contribuire a convalidare le caratteristiche fisiche ed elettriche e mantenere i rendimenti target.
